Чиллеры для испытаний полупроводников

LNEYA представляет международную передовую технологию контроля температуры жидкости, активно исследует и изучает системы тестирования компонентов, в основном используемые для моделирования температурных испытаний при тестировании полупроводников, с широкой температурной ориентацией и высоким подъемом и падением температуры, диапазоном температур от -92 ° C до 250 ° C, подходит для различных тестовых требований. ЛНЭЯ стремится решить проблему запаздывания регулирования температуры в электронных компонентах. Технология сверхвысокотемпературного охлаждения позволяет охлаждать непосредственно от 300°C.

  Sподходит для точного контроля температуры электронных компонентов. При производстве полупроводниковых электронных компонентов для суровых сред этапы сборки корпуса ИС, проектирования и производственных испытаний включают тепловые испытания электроники и другие имитации испытаний в условиях окружающей среды при температурах (от -45°C до +250°C). После практического использования эти полупроводниковые устройства и электронные продукты могут подвергаться воздействию экстремальных условий окружающей среды, чтобы соответствовать строгим военным и телекоммуникационным стандартам надежности.