Прибор для испытания полупроводниковых компонентов используется для высоко- и низкотемпературных испытаний в полупроводниковой и компонентной промышленности. Прибор для испытания полупроводниковых компонентов LNEYA использует свои преимущества в области систем охлаждения и динамического контроля температуры нагрева для производства приборов для испытания полупроводниковых компонентов, которые сравнимы в промышленности. Большой.

Когда система тестера полупроводниковых компонентов выполняет низкотемпературное обнаружение, оптическое окно в вакуумной низкотемпературной камере необходимо для поддержания герметичности внутреннего вакуума. Однако свет, используемый для интерферометрии, проходит через окно, поэтому необходимо тщательно учитывать влияние оптического окна на обнаружение интерференции в системе. Оптические окна обычно состоят из параллельных пластин, изготовленных из стабилизированного взрывобезопасного стекла, к которым предъявляются жесткие требования по оптическим свойствам материала, плоскостности и параллельности двух поверхностей. Параллельные пластины находятся на пути детектируемого света. Если оптический путь обнаружения представляет собой сходящийся луч, то параллельная пластина обязательно вносит аберрации (т.е. сферическую аберрацию), что приводит к ошибкам обнаружения. Расчетным путем было установлено, что разница оптических путей, вызванная оптическим окном, может быть компенсирована дефокусировкой интерферометра. В реальных условиях эксплуатации можно выбрать правильную расфокусировку, чтобы общая погрешность измерений была мала, а влияние оптического окна можно было игнорировать.

Когда из внутренней части низкотемпературной камеры удаляется воздух, между двумя сторонами окна возникает разница атмосферного давления, что соответствует давлению 280 Ньютонов на область окна. В принципе, такая большая сила создает напряжения внутри окна, вызывая изменение показателя преломления, что вносит дополнительные волновые различия. Расчеты показывают, что напряжение, создаваемое атмосферным давлением внутри окна, велико во внешнем кольце, мало в середине и равно нулю в центральной точке. Если принята схема обнаружения параллельного пучка с большой апертурой, проходящего через окно, влияние атмосферного давления будет очень серьезным; если оптический путь обнаружения проходит через небольшую область в центре окна в виде конвергенции, вклад атмосферного давления в разность оптических путей окна будет очень мал.

Прибор для испытания полупроводниковых компонентов может измерять температуру образца, повышать напряжение регулятора, нагревать образец радиационным нагревателем, повышать температуру образца, измерять проводимость и интенсивность свечения образца при высокой температуре, а также строить график повышения температуры. Кривая этих физических величин высока.

Прибор для испытания полупроводниковых компонентов может применяться в различных областях материаловедения и позволяет тестировать различные материалы, устройства и т.д. при низкой температуре на электропроводность и люминесцентные характеристики, особенно при температуре, которая может быть достигнута выше критической температуры некоторых высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Это может оказать определенную помощь в проведении данного исследования. Длинный диапазон температур может быть испытан при высоких и низких температурах для определения свойств специальных материалов, таких как проводимость полупроводниковых пластин, деформация оружия, аэрофотосъемка и оптика для захвата космоса.

Тестер полупроводниковых компонентов LNEYA разработан для полупроводниковых материалов и подходит для тестирования и работы в различных температурных условиях с различными полупроводниковыми материалами.

(Примечание: некоторые из оригинальных материалов взяты из соответствующих статей. В случае нарушения, пожалуйста, свяжитесь с нами вовремя, чтобы удалить, спасибо!)